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HIKSEMI HS-TF-E1/512G NEO PLUS Memoria MicroSD 512GB NXK-UTG00 Puntos de prueba diagnóstica para

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Description

Puntos de prueba diagnóstica para medidor de voltaje digital (DVM) en las luces estroboscópicas con bocina

clasificado 2 A resistivo

Cuando está instalado y configurado correctamente

6 mm: Alto: 84

Diámetro del montaje del poste 1

HIKSEMI HS-TF-E1/512G NEO PLUS Memoria MicroSD 512GB NXK-UTG00 Puntos de prueba diagnóstica paraNunca te pierdas nada con la tarjeta de memoria de vigilancia Gran capacidad de almacenamiento para afrontar cualquier desafo Tan estable como el monte Tai, garantizando su seguridad Perfectamente compatible, fcil de usar Capacidades impermeables, a prueba de golpes y antiestticas. Especificaciones Capacidad 512 GB Velocidad mxima de lectura 95 MB s Velocidad mxima de escritura 60 MB s NAND cario TLC Formato MicroSDHC Dimensiones 0,59 x 0,43 x 0,04

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